菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測厚儀

COULOSCOPE CMS2 STEP
與COULOSCOPE CMS2附錄中描述的相同功能用于STEP測量測量
可調節的除鍍電流
使用光標確定涂層厚度和潛在差異
自動測量序列，用于調節銀參比電極（產生所需的AgCl涂層）
STEP測試（同時厚度和電化學勢測定），ASTM B764，DIN EN 16866
測量原理
STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)（同時測量鍍層厚度和化學電位差）的簡寫， 是已經標準化很久的測量方法。它可以同時測量各鍍層厚度和多層鎳系統中兩層之間的電化學電位差。 厚度測量時用庫侖法來測量，電位差通過外面鍍一層 AgCl 的銀參比電極來測量。電壓曲線可以顯示在屏幕上，鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出。為了獲得可以比較的穩定電位差測量結果，參比電極到工件的距離必須始終保持不變。 這個問題通過特殊的測量槽得到解決

如果不能使用非破壞性方法，Couloscope CMS2是測量金屬或非金屬基材上幾乎任何金屬涂層厚度的理想儀器，尤其是多層涂層。
COULOSCOPE CMS2 STEP：
除了與COULOSCOPE CMS2相對應的涂層厚度測量外，COULOSCOPE CMS2 STEP還提供符合ASTM B764  -  04和DIN EN 16866的STEP測試功能.COULOSCOPE CMS2 STEP非常適合測量單個涂層厚度和 多種鎳涂層的潛在差異以簡單的標準符合方式。
COULOSCOPE CMS2儀器可測量金屬或非金屬基材上幾乎任何金屬涂層的厚度。
儀器功能
單涂層和多涂層系統的測量
圖形顯示，可清晰地顯示測量值，設定的涂層系統以及作為去鍍速率和測試區域尺寸的參數
液晶顯示屏上的電池電壓圖形顯示
適用于大多數金屬涂層的許多預定義測量應用
可選測量單位：μm或密耳
•歐洲，南美和亞洲展示語言