Fischerscope X-ray測厚儀的特點：根據DINISO3497和ASTMB568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度XULM的最小測量點約0.1mm；XUL最小測量點約0.5mm鎢X射線管或鎢微聚焦管（XULM）作為X射線源。

　　采用經實踐驗證的短測量時間的比例接收器準直器：固定或4個自動切換

　　初級過濾器：固定或3個自動切換固定樣品臺或手動XY載物臺用于光學觀察測量點的攝像頭經認證的全面防護設計；FischerMP0系列測厚儀應用：電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護電鍍液中金屬含量的分析裝飾性涂層Cr/Ni/Cu/ABS>電子行業連接器和觸點上的鍍層。

      Fischerscope X-ray測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPEX-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。

　　XAN500采用的硅漂移探測器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的*基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

　　使用XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進行便捷快速的測量。設計結構的優化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結果的再現性。同時，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設備，以便檢測小型樣品。