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微型光澤儀 XS型：小口徑光澤儀適用于小部件表面測量，很多產品不僅是由不同的部件構成，同時要求這些部件具有類似的表面外觀。造型優美的設計已成為產品能否成功的重要因素，諸如手機、電腦或者家用電器。需要將小部件整合到大部件中并融為一體，例如框架、按鍵以及裝飾性的零部件。這些產品的大小和設計使它們很難用傳統的光澤儀進行評估。微型光澤儀XS為小口徑60°光澤儀，測量口徑2x4mm，是測量小部件光澤的理想方案，確保使之與大部件相統一。額外新增的版本是增強型微型60°光澤儀XS-S,其技術性能適用于測量非常低光澤表面的產品。特殊應用的光澤測量特殊的材料要求特殊的測量角度：陶瓷材料，塑料薄膜和硬質塑料，紙張和硬紙板不僅可用 20°,60°, 85°常規角度進行測量，也可按照行業標準選擇45°或75°。微型光澤儀45°對于中低光澤產品，塑料薄膜和硬質塑料，不論透明還是不透明材質，通常都用45°角來測量。對于透光的薄膜，請用型號為5015的黑色耐擦洗實驗板作為啞光黑色背景（174頁）墊于樣品背后。如果沒有合適的背景板，測量會發生錯誤。標準的測量方法要求每個樣品至少測量三個點，以獲取光澤均質性指征。微型光澤儀統計測量模式，可顯示平均值和差值范圍或者顯示測量樣品的均質性的標準偏差值。微型光澤儀45°：特別應用在陶瓷、塑料盒薄膜的光澤測量陶瓷、搪瓷和其他材料使用45°光澤儀，通過測量失光率可以對比這些材料的耐酸性，耐堿性或者其他環境因素的影響。

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德國BYK分光光度計性能參數表：

測量范圍：0-2000GU

重復性:0-100GU ±0.2GU;100-2000GU ±0.2%

重現性:0-100GU ±0.5GU;100-2000GU ±0.5%

光路：20°、60°、85°(高、中、低光澤)

測量面積：9X15mm

光譜敏感度:CIE standard observer for illuminant CIE-C

連續模式：實測值、平均值、最小值、最大值

差值模式：50個附有允差的標準記憶

統計模式：每個樣品測量點的個數從2-99可選擇三行顯示可選擇：實測值、  平均值、最小值、最大值、差幅值、標準偏差、差值、合格/不合格

記憶：帶有日期和時間的999個讀數記憶功能

接口：串口RS232

軟件：easy-link

測量時間：0.5秒/角度

尺寸：160x60x30mm

重量:0.4kg

德國BYK4563三角度光澤儀標準配置：

主機、校準底座、可追溯的證書、USB線纜，電池、操作手冊、攜帶箱。

可供下載的軟件:  smart-lab Gloss或  smart-process Gloss含2個許可證

注意：軟件下載后所有的軟件包可免費試用30天。之后，用戶需決定并注冊其中一個軟件包。